全自動-組件EL缺陷測試儀
半自動-組件EL缺陷測試儀
組件EL缺陷測試儀性能
l的成像質量:1200萬、1600萬成像質量優(yōu)良,無噪點。相機帶有半導體制冷,可達-20℃,排除熱噪聲的影響,使圖像質量進一步提升。
l全封閉式光路設計:全封閉光學系統(tǒng)和恒溫冷卻系統(tǒng)使測試環(huán)境保持在全暗室和恒溫環(huán)境下,保證了整個系統(tǒng)運行的穩(wěn)定性;避免了因外界雜光和溫度不均造成測試成績噪點,保證了測試的直觀性和準確性。
l強大專用測試軟件:全中文顯示界面,可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進行文件保存??煞糯髵呙鑸D像顯示細節(jié),方便判斷。
lEl全自動測試儀結構設計合理,調(diào)整方便,可輕松實現(xiàn)與客戶產(chǎn)線接口。
lCCD攝像機采用進口感光芯片,成像效果優(yōu)良;并帶有制冷功能,制冷效果可達-20℃,可進一步提升圖像質量。攝像機分為1200萬、1600萬像素不同規(guī)格,并可配置雙相機。
lPC軟件,不僅可以實現(xiàn)測試流程的監(jiān)控,還允許客戶直接標記缺陷類型,隨同測試結果一同保存。具有本地數(shù)據(jù)庫可實現(xiàn)測試結果的查詢,同時具有同客戶數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)接口功能。
l可將測試結果及時上傳,也可上報設備工作情況。更多功能可由客戶的需求定制。自動條形碼掃描功能。
組件EL缺陷測試儀技術參數(shù)
型號規(guī)格 | EL600S/D-M | EL830S/D-M |
有效測試面積 | 2000X1200mm(可根據(jù)客戶要求定制) | |
分辨率 | 3032*×2016 | 3358*2536 |
6656*2030 | 6716*2536 | |
測試組件類型 | 單晶、多晶組件 | |
相機類型 | 冷卻型CCD | |
冷卻到達溫度 | 致冷至室溫下20°C | |
曝光時間 | 0—60秒可調(diào) | |
壓縮空氣 | 0.8MP | |
可檢測缺陷類似 | 檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異?,F(xiàn)象 |
組件EL缺陷測試儀應用領域
該設備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異常現(xiàn)象。
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