便攜式金屬硬度檢測(cè)儀 Equotip 550 Leeb

• 規(guī)格：Equotip 550 Leeb
• 品牌：瑞士博勢(shì)Proceq
• 用途：測(cè)量金屬硬度

金屬硬度檢測(cè) Equotip 550 Leeb

性能與優(yōu)點(diǎn)

Equotip 550是便攜式硬度檢測(cè)中功能*齊全的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，*適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

結(jié)合Equotip Portable Rockwell探頭，Equotip 550可使用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。 這將能夠在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將Leeb關(guān)聯(lián)至Portable Rockwell的實(shí)際壓痕硬度值。

新一代Equotip觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)?、自?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行*高質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq的Equotip已經(jīng)成為全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Equotip裝置完全滿足眾多行業(yè)對(duì)無損硬度檢測(cè)的要求。

特色/應(yīng)用/標(biāo)準(zhǔn)化/技術(shù)數(shù)據(jù)

Equotip Leeb

• 根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
• 自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度± 4 HL（硬度為800 HL時(shí)，準(zhǔn)確度為0.5%）
• 測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。
• 每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和*確的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

• 模塊化概念： 利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用
• 組合法： 在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將Leeb關(guān)聯(lián)至Portable Rockwell的實(shí)際壓痕硬度值
• 引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量jing確度
• 自動(dòng)驗(yàn)證： 根據(jù)ISO 16859和ASTM A956逐步驗(yàn)證
• 互動(dòng)指南： 通過屏幕通知為您的應(yīng)用獲取*相關(guān)的設(shè)置
• 轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線
• 自定義報(bào)告： 模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告
• 自動(dòng)選項(xiàng)： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境
• 外殼經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)，可用于嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境(IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
• 高分辨率彩色顯示屏
• 電池使用時(shí)長(zhǎng)> 8h
• 8 GB閃存
• 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB主機(jī)、USB裝置和以太網(wǎng)
• 通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現(xiàn)未來保障投資

• 里氏回彈硬度檢測(cè)主要用于金屬測(cè)量，還可用于復(fù)合材料、橡膠和巖石檢測(cè)
• *合適用于材料挑選、驗(yàn)收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測(cè)
• *合適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
• 方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測(cè)場(chǎng)地

Proceq提供一些附件，例如一個(gè)測(cè)量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測(cè)試件結(jié)構(gòu)上進(jìn)行手動(dòng)硬度測(cè)量

標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM A956 / E140 / A370
• ISO EN 16859（即將發(fā)布）
• DIN 50156
• GB/T 17394
• JB/T 9378

準(zhǔn)則

• ASME CRTD-91
• DGZfP Guideline MC 1
• VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
• Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

儀器

• 顯示屏7”彩色顯示屏800 x 480像素
• 內(nèi)存內(nèi)置8 GB閃存（可存儲(chǔ)多達(dá)1000000個(gè)測(cè)量值）
• 區(qū)域設(shè)置公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)
• 電池鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
• 電池使用時(shí)長(zhǎng)> 8h（標(biāo)準(zhǔn)操作模式下）
• 電源輸入12 V +/-25 % / 1.5 A
• 重量（顯示裝置）大約1525 g（含電池）
• 尺寸250 x 162 x 62 mm
• *高海拔2500 m海拔高度
• 濕度< 95?%RH，非冷凝
• 操作溫度0°C至30°C（32 至 86°F）（正在充電且儀器正在運(yùn)行）

0°C至40°C（32 至 104°F）（正在充電且儀器關(guān)閉）

-10°C至50°C（14 至 122°F）（未充電）

• 環(huán)境適合室內(nèi)與室外使用
• IP 等級(jí)IP 54
• 污染等級(jí)2
• 安裝類別2

Equotip Leeb沖擊裝置

• 測(cè)量范圍1-999 HL
• 測(cè)量jing度± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5 %）
• 分辨率1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
  0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)

• 沖擊方向自動(dòng)補(bǔ)償（DL探頭除外）
• 沖擊能量
• D、DC、E、S探頭為11.5 Nmm
• DL探頭為11.1 Nmm
• C探頭為3.0 Nmm
• G探頭為90.0 Nmm

沖擊體質(zhì)量

• D、DC、E、S探頭為5.45克（0.2盎司）
• DL探頭為7.25克（0.26盎司）
• C探頭為3.10克（0.11盎司）
• G探頭為20.0克（0.71盎司）

球壓頭

• C、D、DC探頭為碳化鎢，直徑3.0毫米（0.12英寸）
• DL探頭為碳化鎢，直徑2.78毫米（0.11英寸）
• G探頭為碳化鎢，直徑5.0毫米（0.2英寸）
• S探頭為陶瓷，直徑3.0毫米（0.12英寸）
• E探頭為多晶金剛石，直徑3.0毫米（0.12英寸）

操作溫度–10?C至50?C（14至122°F）

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