美國(guó)LEE粗糙度儀優(yōu)點(diǎn):用優(yōu)化的電路設(shè)計(jì)及傳感器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),將電箱、驅(qū)動(dòng)器及顯示部分合為一體,使其達(dá)到高度集成化;任意選擇Ra、Rz、Rq、Rt測(cè)量參數(shù);不僅可以測(cè)量外圓、平面、錐面,還可測(cè)長(zhǎng)寬大于80×30mm的溝槽。功能特點(diǎn):采用高速DSP處理器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和計(jì)算,測(cè)量和運(yùn)算速...更多
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